修复和运行存储器件的方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
在用于修复存储器件的方法中，确定常规存储单元(10)的数据保存时间。确定具有低于预定极限值的数据保存时间的弱的常规存储单元(10)。如此地编程装置(34)，使得对所述弱的常规存储单元(10)的写或读访问同时也施行于冗余存储单元(12)，以便共同地读出或写入所述的弱的常规存储单元(10)和所述的冗余存储单元(12)。
基本信息
专利标题 ：
修复和运行存储器件的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1801395A
申请号 ：
CN200510119471.5
公开（公告）日 ：
2006-07-12
申请日 ：
2005-11-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
P·佩赫米勒
申请人 ：
因芬尼昂技术股份公司
申请人地址 ：
德国慕尼黑
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
程天正
优先权 ：
CN200510119471.5
主分类号 ：
G11C11/407
IPC分类号 ：
G11C11/407 G11C7/00 G11C29/00 G06F12/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C11/08
应用多孔存储元件的，例如：应用多孔磁芯存储器；应用把几个单独的多孔存储元件合并起来的板
G11C11/21
应用电元件的
G11C11/34
应用半导体器件的
G11C11/40
应用晶体管的
G11C11/401
形成需要刷新或电荷再生的单元的，即，动态单元的
G11C11/4063
辅助电路，例如，用于寻址、译码、驱动、写、读出或定时的
G11C11/407
用于场效应型存储单元的
法律状态
2010-01-27 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-09-06 ：
实质审查的生效
2006-07-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN1801395A.PDF
PDF下载
