用于存储器装置的缺陷检测
实质审查的生效
摘要
本申请案涉及用于存储器装置的缺陷检测。分段数字裸片缺陷检测器可包含各自与测试电路耦合的多个信号线及控制电路以形成路径。所述路径的至少部分可延伸通过所述裸片的内部部分。测试电路可产生指示相应信号线的状况的数字反馈信号。所述控制电路可产生指示所述信号线的所述状况的单个输出信号。通过利用数字测试电路系统及单个数字输出信号，所述分段数字裸片缺陷检测器的布局区域可减少且与测试操作相关联的功耗可减少。
基本信息
专利标题 ：
用于存储器装置的缺陷检测
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114446371A
申请号 ：
CN202111219280.1
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2021-10-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吕俊毅
申请人 ：
美光科技公司
申请人地址 ：
美国爱达荷州
代理机构 ：
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
王龙
优先权 ：
CN202111219280.1
主分类号 ：
G11C29/08
IPC分类号 ：
G11C29/08 G11C29/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/08
申请日 : 20211020
申请日 : 20211020
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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