航天卫星光学和机械测量基准统一精测设备
专利申请权、专利权的转移
摘要

本实用新型属于航天技术领域,具体涉及一种可应用于卫星光学和机械测量基准的统一精测设备。航天卫星光学和机械测量基准统一精测设备,包括底座,底座上设有测量环,测量环的外圆周面上均布有四块结构块,其中一块结构块上设有立方镜;测量环的上表面为主基准M面,测量环侧边设有侧向基准N面,立方镜两个镜面的法线与主基准M面、侧向基准N面之间为垂直或平行。本实用新型适用于光学基准与机械基准同时使用的情况,涉及范围广,每颗卫星的总装过程都可以采纳,非常实用,意义甚远。

基本信息
专利标题 :
航天卫星光学和机械测量基准统一精测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022083766.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-22
授权号 :
CN212158611U
授权日 :
2020-12-15
发明人 :
朱云飞许美娟曾志敏
申请人 :
上海格思信息技术有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区海科路99号4楼
代理机构 :
上海韧辰专利代理有限公司
代理人 :
于露萍
优先权 :
CN202022083766.4
主分类号 :
G01C15/00
IPC分类号 :
G01C15/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C15/00
不包括在G01C1/00至G01C13/00各组的测量器械或部件
法律状态
2021-07-13 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : G01C 15/00
登记生效日 : 20210701
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 上海格思信息技术有限公司
变更后权利人 : 上海湃星信息科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 201210 上海市浦东新区海科路99号4楼
变更后权利人 : 201203 上海市浦东新区环湖西二路888号C楼
2020-12-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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