一种用于芯片大规模量产测试的测试连接座
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于芯片大规模量产测试的测试连接座，包括基座与测试台，所述基座为U形，所述测试台下侧外壁轴对称固定连接有两个支撑杆，所述测试台中设有冷却管，所述支撑杆远离测试台一侧固定连接有活动内管，所述活动内管远离支撑杆一端固定连接有第一活塞，所述基座底壁固定连接有外管，所述第一活塞与外管内壁滑动连接，所述第一活塞中设有第一单向阀，所述外管侧壁连通有导气管，所述导气管上设有第二单向阀，所述基座底壁固定连接有冷却水箱，所述冷却水箱的形状为U形，所述冷却水箱两端均固定连接有固定塞，所述冷却水箱中设有第二活塞。本实用新型可以起到一定的防震作用，并能进行自冷却。
基本信息
专利标题 ：
一种用于芯片大规模量产测试的测试连接座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022332158.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-19
授权号 ：
CN213364967U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
许传庆许元君
申请人 ：
苏州锜庆精密电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市相城区黄埭镇潘阳工业园咏春工业坊2C
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022332158.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 H05K7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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