一种芯片量产测试系统及方法
授权
摘要
本发明公开了一种芯片量产测试系统，包括：第一功能寄存器、第一选择器、存储器、第二选择器、第二功能寄存器、旁路寄存器和控制器；第一功能寄存器的输出端与第一选择器的第一输入端连接；第一选择器的输出端分别与存储器以及旁路寄存器的输入端连接；旁路寄存器的输出端与第二选择器的第二输入端连接；存储器的输出端分别与第二功能寄存器的第以输入端和控制器的输入端连接；第二寄存器的输入端与第二选择器的输出端连接；控制器的输出端与第一选择器的第一输入端连接，控制器的输入端与存储器的输出端连接。本发明提供的一种芯片量产测试系统，能够使芯片的内建自测试和低速扫描并行独立运行，有利于提高芯片量产老化测试的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片量产测试系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111366842A
申请号 ：
CN202010158178.4
公开（公告）日 ：
2020-07-03
申请日 ：
2020-03-09
授权号 ：
CN111366842B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
刘一杰李建军莫军
申请人 ：
广芯微电子（广州）股份有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市中新广州知识城九佛建设路333号378房
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
郭浩辉
优先权 ：
CN202010158178.4
主分类号 ：
G01R31/3185
IPC分类号 ：
G01R31/3185 G11C29/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/08
探测电缆、传输线或网络中的故障
G01R31/14
所用的电路
G01R31/315
使用电感法
G01R31/3185
测试的重新配置，例如LSSD，划分
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2020-07-28 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/3185
申请日 : 20200309
申请日 : 20200309
2020-07-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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