一种光电器件温控测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种光电器件温控测试装置，包括光控层，所述光控层的下端表面固定连接有温控层，所述温控层的一端表面固定连接有散热箱，所述散热箱的下端表面固定连接有加热层，所述加热层的下端表面固定连接有支撑层，所述支撑层的内部固定安装有抵接板。本实用新型所述的一种光电器件温控测试装置，通过设置的温控层，可以在恒压环境下，测试不同温度下光电器件的电阻与使用效果，通过排除其他外界因素的干扰，可最大限度得到精确的测试结果，通过设置的安装结构，结构简单，连接稳固，不需要专业人士，普通人即可自行安装，大大节省了使用成本和时间，提升了装置的适用范围。
基本信息
专利标题 ：
一种光电器件温控测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022508897.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-03
授权号 ：
CN213457223U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
李清华董江
申请人 ：
奥兰若科技（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区保税区凤凰路2号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022508897.2
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
