离子分析装置
实质审查的生效
摘要

一种离子分析装置,具备:反应室(2),其被导入源自试样成分的前体离子;自由基生成部,其具有绝缘管551和使该绝缘管的内部发生放电的放电部(54、552);气体供给部(52、53),其能够向绝缘管的内部供给第一气体和第二气体,其中,该第一气体是自由基原料气体,该第二气体是氧气、臭氧气体、氮气、含有氧原子或氮原子的化合物的气体以及稀有气体中的任一方;真空排气部(57),其对绝缘管的内部进行排气;自由基导入部(55),其向反应室的内部导入自由基;以及控制部(93),其执行第一动作和第二动作,其中,在该第一动作中,通过向绝缘管的内部导入第一气体并使绝缘管的内部发生放电来生成自由基,并将该自由基导入到反应室的内部,在该第二动作中,向绝缘管的内部导入第二气体。

基本信息
专利标题 :
离子分析装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114342040A
申请号 :
CN202080060217.5
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2020-04-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
高桥秀典田中耕一
申请人 :
株式会社岛津制作所
申请人地址 :
日本京都府
代理机构 :
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘新宇
优先权 :
CN202080060217.5
主分类号 :
H01J49/00
IPC分类号 :
H01J49/00  H01J49/26  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 49/00
申请日 : 20200413
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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