离子分析装置和方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种离子分析装置,包括:第一离子源,用于提供分析物离子;第二离子源,用于提供辅助离子;辅助离子的正负极性与分析物离子相反,辅助离子的离子云与分析物离子的离子云在空间分布上有重合,且至少部分所述分析物离子不与所述辅助离子产生化学反应;离子分析器,用于对分析物离子进行分析;离子传输装置,位于第一离子源和离子分析器之间,用于使分析物离子传输进入离子分析器,并拒绝辅助离子进入离子分析器。本发明可降低或消除大量分析物离子之间的空间电荷效应,进而提高由此条件限制下的离子分析性能,比如灵敏度、分辨率等。

基本信息
专利标题 :
离子分析装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114527187A
申请号 :
CN202011202646.X
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2020-11-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张小强
申请人 :
岛津分析技术研发(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区金海路1000号52号楼三楼
代理机构 :
上海立群专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨楷
优先权 :
CN202011202646.X
主分类号 :
G01N27/62
IPC分类号 :
G01N27/62  G01N27/622  H01J49/42  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/62
通过测试气体的电离,例如气溶胶;通过测试放电,例如阴极发射
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 27/62
申请日 : 20201102
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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