用于LIDAR测量的处理系统
公开
摘要
光学测量系统可通过提高其数据路径的各种方面来改进其估计与周围对象的距离的准确度。空间分辨率可通过基于空间方位而细分直方图桶或积分寄存器而提高。数据路径中的任一点处的饱和可被检测到且用于停止计数个别像素中的光子，饱和可接着在测量结束之后归一化。多个峰值可使用递归或迭代技术检测到以识别每一阶段处的最大剩余峰值。代替迭代通过直方图存储器多次，阈值可基于所估计环境噪声水平而预计算，且峰值可在单次遍历中检测到。
基本信息
专利标题 ：
用于LIDAR测量的处理系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114424086A
申请号 ：
CN202080066762.5
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2020-08-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
A·帕卡拉M·舒
申请人 ：
奥斯特公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京市汉坤律师事务所
代理人 ：
魏小薇
优先权 ：
CN202080066762.5
主分类号 ：
G01S17/88
IPC分类号 ：
G01S17/88 G01S17/89 G01S17/10 G01S7/483 H01L27/146 H01L31/107
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/875
用来决定高度
G01S17/88
专门适用于特定应用的激光雷达系统
法律状态
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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