一种圆柱体位姿测量方法及装置
授权
摘要

本发明公开了一种圆柱体位姿测量方法及装置,该测量方法包括:S1:在待测圆柱体的周围布置线激光位移传感器,获取待测圆柱体的相关参数;S2:根据获取的待测圆柱体的相关参数,采用圆柱体位姿测量模型计算待测圆柱体的第一高度测量截面的中心位置;通过竖直移动所述线激光位移传感器,采用圆柱体位姿测量模型计算待测圆柱体在第二高度测量截面的中心位置;S3:根据所述第一高度测量截面的中心位置和第二高度测量截面的中心位置,计算待测圆柱体的姿态。本发明方法适用于多件产品装配的位姿测量,可降低对安装线激光位移传感器的运动组件的几何精度和定位精度要求,只要能保证足够的重复定位精度即可,便于工程实现,效率较高。

基本信息
专利标题 :
一种圆柱体位姿测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112815850A
申请号 :
CN202110217140.4
公开(公告)日 :
2021-05-18
申请日 :
2021-02-26
授权号 :
CN112815850B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
刘延龙肖虹贾玉辉唐恺陈华
申请人 :
中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
申请人地址 :
四川省绵阳市绵山路64号
代理机构 :
成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张超
优先权 :
CN202110217140.4
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-22 :
授权
2021-06-04 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20210226
2021-05-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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