孔位测量方法及其测量装置
实质审查的生效
摘要
本申请公开了孔位测量方法及其测量装置，该孔位测量方法用于测量同一工件上朝向同一侧的A孔与B孔之间的位置度，方法包括：在工件的实际定位状态下，测量工件的A孔圆心C1和B孔圆心C2之间的水平距离X0和竖直距离Y0；以A孔圆心C1为基准点，测量工件的实际定位状态相对于理想定位状态的B孔圆心C2的旋转偏移量，根据旋转偏移量计算水平误差Xe和竖直误差Ye；利用水平距离X0与水平误差Xe求和以获得工件在理想定位状态下的A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的横向距离X，利用竖直距离Y0与竖直误差Ye求和以获得工件在理想定位状态下的A孔圆心C1到B孔圆心C2之间的纵向距离Y。
基本信息
专利标题 ：
孔位测量方法及其测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114485510A
申请号 ：
CN202210389931.X
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-04-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
庆克昆蔡明元
申请人 ：
南京泰普森自动化设备有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市栖霞区新港开发区红枫科技园D4栋
代理机构 ：
北京市维诗律师事务所
代理人 ：
李雪
优先权 ：
CN202210389931.X
主分类号 ：
G01B21/00
IPC分类号 ：
G01B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/00
申请日 : 20220414
申请日 : 20220414
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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