利用可调谐激光技术检测光学器件面温度分布的一种方法

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摘要

本发明公开了利用可调谐激光技术检测光学器件面温度分布的一种方法，该方法采用的光学器件面温度分布检测系统包括激光器调制模块，激光器温控模块，半导体激光器，光学器件，温度检测模块，信号处理模块，微控制器(MCU)，反射镜，激光功率计。激光器调制模块为随机电流调制的激光驱动器，使用激光调制模块实现半导体激光器随机的电流调制，激光器的驱动电流的改变会导致激光器波长和功率的改变，从而实现对待测对象的随机功率激励，然后利用一对温度传感器代替传统的阵列或扫描式传感器完成对光学器件表面温度信号的采样和重构过程。本发明利用可调谐激光技术检测光学器件面温度分布的一种方法，结构简单，适用于温度检测领域。

基本信息

专利标题：

利用可调谐激光技术检测光学器件面温度分布的一种方法

专利标题（英）：

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公开（公告）号：

CN113049135A

申请号：

CN202110268855.2

公开（公告）日：

2021-06-29

申请日：

2021-03-12

授权号：

CN113049135B

授权日：

2022-04-08

发明人：

周鹰高蒙赵斌兴王静孙启明李斌成

申请人：

电子科技大学

申请人地址：

四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202110268855.2

主分类号：

G01K7/24

IPC分类号：

G01K7/24