一种样品中Pu同位素和Np-237含量的联合分析方法
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摘要
本发明属于放射性物质分析技术领域，涉及一种样品中Pu同位素和Np‑237含量的联合分析方法。所述的联合分析方法包括如下步骤：(1)用HNO3‑NaNO2溶液体系预处理基于三正辛基氧化膦的树脂柱；(2)在样品中加入Pu‑236或Pu‑242作为Pu和Np‑237同时测量的示踪剂，用HNO3溶液调节样品酸度，然后加入NaNO2溶液调节样品中Pu同位素的价态为正四价和Np‑237的价态为正六价；(3)将步骤(2)得到的处理后的样品溶液通过步骤(1)处理后的树脂柱，在先后用HNO3‑NaNO2溶液体系、HCl‑NH2OH·HCl溶液体系洗涤树脂柱后，用HCl‑HF‑NH2OH·HCl溶液体系洗脱树脂柱；(4)对洗脱液进行Pu同位素和Np‑237含量的分析。利用本发明的方法，能够成功、可靠、稳定、同步的分析样品中的Pu同位素和Np‑237含量。
基本信息
专利标题 ：
一种样品中Pu同位素和Np-237含量的联合分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113311465A
申请号 ：
CN202110377090.6
公开（公告）日 ：
2021-08-27
申请日 ：
2021-04-08
授权号 ：
CN113311465B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
杨垚罗茂益刘大前戴雄新杨彪
申请人 ：
中国辐射防护研究院
申请人地址 ：
山西省太原市小店区学府街102号
代理机构 ：
北京天悦专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
田明
优先权 ：
CN202110377090.6
主分类号 ：
G01T1/167
IPC分类号 ：
G01T1/167 G01N27/626
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量，例如，污染的测量
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2021-09-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/167
申请日 : 20210408
申请日 : 20210408
2021-08-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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