基于椭圆拟合的光学低频应变检测系统与检测方法
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摘要

本发明公开了基于椭圆拟合的光学低频应变检测系统与检测方法,该系统包括激光器、两个干涉仪、相位调制器、信号发生器、双路光电探测器及数据处理模块;两个干涉仪共用一个干涉臂,该共用干涉臂为参考臂;所述相位调制器设置在两个干涉仪的参考臂上;两个干涉仪由其中一个传感臂感知外部应变,而参考臂与另一传感臂用于隔绝外界干扰;本发明所述基于双干涉仪和椭圆拟合算法的光学低频应变检测方法通过在相位解调技术中引入椭圆拟合算法,以处理直流分量的偏置和通道间干涉信号的条纹可见度,可以直接计算出干涉信号的相位差,根据椭圆拟合算法计算出的相位差来计算光纤长度的变化,从而实现对低频应变的检测。

基本信息
专利标题 :
基于椭圆拟合的光学低频应变检测系统与检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113108710A
申请号 :
CN202110402388.8
公开(公告)日 :
2021-07-13
申请日 :
2021-04-14
授权号 :
CN113108710B
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
左铖时金辉光东吴许强俞本立
申请人 :
安徽大学
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区九龙路111号
代理机构 :
合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘汪丹
优先权 :
CN202110402388.8
主分类号 :
G01B11/16
IPC分类号 :
G01B11/16  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形,例如光学应变仪
法律状态
2022-05-03 :
授权
2021-07-30 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/16
申请日 : 20210414
2021-07-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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