本发明题为“具有阈值开关选择器的交叉点存储器中的断电恢复”。在具有交叉点结构的存储器阵列中，在每个交叉点结处，可编程电阻式存储器元件诸如MRAM存储器单元与阈值开关选择器诸如双向阈值开关串联连接。当施加高于阈值电压的电压时，该阈值开关选择器切换到导电状态。当长时间掉电时，该阈值电压可能向上漂移。如果该漂移过度，则这可能使得该存储器单元难以访问，并且在所存储的数据值被访问时可能对其造成干扰。呈现了用于确定电压阈值的过度漂移是否可能已发生的技术，包括基于读取的测试和基于时间的测试。