一种符合适航要求的孔特征表面缺陷分布曲线建立方法
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摘要

本发明公开了一种符合适航要求的孔特征表面缺陷分布曲线建立方法,首先对收集的表面缺陷统计数据进行数据处理,结合无损检出概率得到真实缺陷个数,从而获取缺陷超越数;然后对缺陷尺寸和超越数进行曲线拟合;最后结合实际缺陷出现概率对缺陷分布超越数基线进行调整,并结合真实缺陷出现情况对初步获取的缺陷分布曲线进行修正,建立表面缺陷分布曲线。表面缺陷分布曲线可以在一定程度上反映不同生产商的加工和检测水平,为概率损伤容限评估提供重要的输入数据,对表面概率损伤容限评估具有重要意义,为航空发动机限寿件的概率损伤容限评估提供数据支撑,进而支撑我国航空发动机的适航取证工作,具有重要的工程意义和实际价值。

基本信息
专利标题 :
一种符合适航要求的孔特征表面缺陷分布曲线建立方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113569392A
申请号 :
CN202110776938.2
公开(公告)日 :
2021-10-29
申请日 :
2021-07-09
授权号 :
CN113569392B
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
李果丁水汀周惠敏
申请人 :
北京航空航天大学
申请人地址 :
北京市海淀区学院路37号
代理机构 :
北京航智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈磊
优先权 :
CN202110776938.2
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20  G06F17/18  G06F17/11  G06F119/14  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-05-10 :
授权
2021-11-16 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20210709
2021-10-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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