一种低成本测振系统及振动测量方法
授权
摘要

本申请公开了一种低成本测振系统及振动测量方法,其中,系统包括:低相干激光器,用于针对待测物体,生成测量激光;光学干涉组件,用于基于测量激光生成参考光束和测量光束,并基于参考光束和测量光束得到干涉光束;相干光探测组件,用于根据干涉光束转换得到第一路等幅正交电信号和第二路等幅正交电信号;信号处理组件,用于对第一路等幅正交电信号和第二路等幅正交电信号进行解调,得到待测物体的振动信息。由此,解决了相关技术中因选用窄线宽,高相干性激光器,不仅价格昂贵,且大大增加了整个系统的成本,限制了应用场景的问题,降低测振系统对于激光器相干性的要求,不仅降低了成本,且应用领域更为广泛。

基本信息
专利标题 :
一种低成本测振系统及振动测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113465722A
申请号 :
CN202110797378.9
公开(公告)日 :
2021-10-01
申请日 :
2021-07-14
授权号 :
CN113465722B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
俞本立郝文良吕韬吴超汪辉
申请人 :
安徽至博光电科技股份有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区创新产业园二期G4栋A座4-5层
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄玉霞
优先权 :
CN202110797378.9
主分类号 :
G01H9/00
IPC分类号 :
G01H9/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01H
机械振动或超声波、声波或次声波的测量
G01H9/00
应用对辐射敏感的装置,例如光学装置,测量机械振动或超声波、声波或次声波
法律状态
2022-06-07 :
授权
2021-10-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01H 9/00
申请日 : 20210714
2021-10-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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