电子元件测量设备、电子元件测量方法及发光二极管的制造方法
公开
摘要
一种电子元件测量设备，其包括第一承载平台、第二承载平台、致动装置、电流输出模组、切换装置以及光学测量元件。第一承载平台用于承载探针基板，探针基板上设有多个探针对。第二承载平台用于承载受测基板，受测基板上放置有多个待测电子元件。致动装置用于使探针基板上至少部分的探针对分别与相对应的待测电子元件接触。电流输出模组提供恒定电流至探针基板，并经由探针对使其与探针对所接触的待测电子元件间形成导电回路。切换装置能切换电流输出模组所提供的恒定电流至不同的探针对。光学测量元件用于测量待测电子元件所产生的光信号。
基本信息
专利标题 ：
电子元件测量设备、电子元件测量方法及发光二极管的制造方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295948A
申请号 ：
CN202111163068.8
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈英杰
申请人 ：
台湾爱司帝科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台中市
代理机构 ：
北京汇知杰知识产权代理有限公司
代理人 ：
李洁
优先权 ：
CN202111163068.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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