基于激光测距仪的天线阵面测试机械精度校准装置及方法
授权
摘要

本申请公开了一种基于激光测距仪的天线阵面测试的机械精度校准装置,包括扫描架、被测天线和激光测距仪。所述扫描架中,Y轴垂直塔架可滑动地固定在X轴水平导轨上;垂直滑块可滑动地固定在Y轴垂直塔架上。被测天线固定在天线托架上,天线托架可滑动地固定在Z轴水平导轨上。激光测距仪设置在平行于Z轴的伸缩机构上,伸缩机构固定在垂直滑块上。校准时,在X轴和/或Y轴方向上移动扫描架,使激光测距仪对被测阵面上的选定标记点进行测试;进行被测阵面的最小二乘拟合,得到被测阵面相对扫描平面的方位、俯仰的偏转角度和偏转方向,并据此修正测试软件的坐标系。本申请可以快速便捷地对被测阵面与扫描平面之间进行平行度校准。

基本信息
专利标题 :
基于激光测距仪的天线阵面测试机械精度校准装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113866700A
申请号 :
CN202111183550.8
公开(公告)日 :
2021-12-31
申请日 :
2021-10-11
授权号 :
CN113866700B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
葛鲁宁李吉龙祝园值毛小莲周建华
申请人 :
上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号15幢1层16102室
代理机构 :
上海双霆知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
殷晓雪
优先权 :
CN202111183550.8
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-04-22 :
授权
2022-01-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20211011
2021-12-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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