高分子材料老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质
公开
摘要
本申请涉及一种高分子材料评估方法、装置、计算机设备和存储介质。装置包括：测试主体装置以及老化箱，测试主体装置包括容器以及设置在容器内的支架，容器，用于盛放目标液体介质，目标液体介质与待测试的高分子材料所处应用环境中的液体特性参数相匹配，支架，用于分层放置待测试的高分子材料，使得待测试的高分子材料与目标液体介质接触，老化箱，用于容纳测试主体装置，提供测试主体装置的老化测试环境。能够在一定程度上排除温度之外的其他应力对高分子材料寿命测试的干扰，提高对高分子材料老化性能的测试准确性。
基本信息
专利标题 ：
高分子材料老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295536A
申请号 ：
CN202111406433.3
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-11-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
徐焕翔唐雁煌廖文渊陈奕华彭博刘子莲朱刚
申请人 ：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请人地址 ：
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 ：
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
赖远龙
优先权 ：
CN202111406433.3
主分类号 ：
G01N17/00
IPC分类号 ：
G01N17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N17/00
测试材料的耐气候，耐腐蚀，或耐光照性能
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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