本发明涉及了一种硅片表面光泽度测试用移动装置，包括工作台，工作台上设有工作板、测试仪器承载架和显示PLC控制器；工作板用于放置硅片试样，测试仪器承载架用于承载光泽度仪，光泽度仪的检测口面向工作板的上表面；测试仪器承载架包括支架、竖直升降机构、旋转机构和水平直线移动机构；支架固定在工作台上，竖直升降机构固定在支架上，竖直升降机构带动旋转机构升降，旋转机构带动水平直线移动机构旋转，水平直线移动机构带动光泽度仪水平移动，光泽度仪的检测口的零点位置与旋转机构的旋转轴心线重合。本技术方案替代了人工操作方式，消除了人为干扰因素对测试结果的影响，提高了检测质量和检测效率，实现了对各样品操作步骤的统一量化。