一种透明薄片状缺陷的检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种透明薄片状缺陷的检测方法,其中,包括以下步骤:提供一具有透明薄片状缺陷的检测样品;将所述检测样品置于暗场扫描机台中,并观察获得的扫描图像,转动所述检测样品,并改变所述暗场扫描机台的光源入射角,直至所述扫描图像噪点减少;改变所述光源的偏振参数,直至所述透明薄片状缺陷于所述扫描图像中亮度增强。本发明技术方案的有益效果为:可降低暗场扫描机台扫描图像的噪声,并增强透明薄片状缺陷的亮度,使透明薄片状缺陷可以被有效的检测到。
基本信息
专利标题 :
一种透明薄片状缺陷的检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114280080A
申请号 :
CN202111505957.8
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭东旭宁威米琳
申请人 :
华虹半导体(无锡)有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区新洲路30号
代理机构 :
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 :
刘昌荣
优先权 :
CN202111505957.8
主分类号 :
G01N21/958
IPC分类号 :
G01N21/958 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/958
检测透明材料
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/958
申请日 : 20211210
申请日 : 20211210
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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