本申请提供一种待转移器件的位置识别方法及设备；在转移设备的目标基台上承载的Wafer的分布区域中，识别到目标标记区域后，确定目标标记区域对应的标记点的第一目标位置坐标，分布区域为待转移器件在Wafer中的占用区域，基于第一目标位置坐标和标记点对应的第一历史位置坐标，确定坐标转换关系，第一历史位置坐标是基于预先识别的Wafer中各个待转移器件的第二历史位置坐标中的至少一个确定的，第二历史位置坐标是相对辅助设备的位置坐标，且转移设备和辅助设备的坐标系相同；基于坐标转换关系，对Wafer中的各个待转移器件的第二历史位置坐标进行转换，获得各个待转移器件相对转移设备的第二目标位置坐标，缩短识别时间。