用于检测器件高度的方法、装置、存储介质及电子设备
实质审查的生效
摘要

本申请实施例提供一种用于检测器件高度的方法、装置、存储介质及电子设备。方法包括:在待检测器件的器件图像中生成检测区域,可选地检测区域覆盖可选地器件图像中待检测器件的至少一个边界,并指示针对可选地待检测器件的高度扫描方向;在可选地检测区域所覆盖的器件图像中确定可选地待检测器件对应的像素;沿可选地高度扫描方向在可选地检测区域内对可选地器件图像进行扫描,根据可选地待检测器件对应的像素,得到可选地待检测器件的边界与预设基准面之间的间距距离;根据多次扫描确定的间距距离确定可选地待检测器件的器件高度。通过上述技术方案,能够方便快捷地计算出器件高度,能够适用于高通量的检测场景,能够适用于不同的检测对象。

基本信息
专利标题 :
用于检测器件高度的方法、装置、存储介质及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114494124A
申请号 :
CN202111567210.5
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
殷亚男田松朱小明张鑫蒋粉玲
申请人 :
苏州镁伽科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号1#101、201单元
代理机构 :
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 :
陈姝婧
优先权 :
CN202111567210.5
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/11  G06T7/13  G06T7/136  G06T7/60  G06T7/90  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211220
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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