一种近红外光谱数据异常点校正方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及近红外光谱数据校正技术,其公开了一种近红外光谱数据异常点校正方法,解决便携式近红外光谱仪采集获取的光谱数据容易失真,准确性较差,进而影响其光谱预测分析能力的问题。本发明首先利用便携式近红外光谱仪分别采集待测样品及标准板光谱数据;然后结合标准板反射率与其光谱数据获取标准板反射率‑光谱数据对照表,结合光谱数据合理偏差值获取标准板反射率‑光谱阈值对照表;接着,结合待测样品反射率与标准板反射率之间的关系获取样品反射率‑光谱阈值对照表;最后结合样品反射率‑光谱阈值对照表判断待测样品光谱数据是否异常,并对异常光谱数据进行异常点校正。

基本信息
专利标题 :
一种近红外光谱数据异常点校正方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324158A
申请号 :
CN202111570591.2
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘浩闫晓剑贾利红张国宏
申请人 :
四川启睿克科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府四街199号1栋33层
代理机构 :
成都虹桥专利事务所(普通合伙)
代理人 :
吴中伟
优先权 :
CN202111570591.2
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/359  G01N21/27  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/01
申请日 : 20211221
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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