一种天线反射体空间几何关系校准方法及装置
公开
摘要
本发明公开了一种天线反射体空间几何关系校准方法及装置，天线反射体空间几何关系校准方法包括：在天线安装阶段，按照预设路径对所述天线反射体进行摄影测量，以获得所述天线反射体的图像数据；提取所述天线反射体的图像数据中的各第一测量标识的坐标；建立以所述馈源的喇叭口为基准的目标坐标系，并基于所述目标坐标系建立理论天线反射体的理论模型；将所述各第一测量标识的坐标映射至所述目标坐标系，并确认所述主反射面和副反射面各第一测量标识的坐标与所述理论模型之间的偏差；基于所述偏差对所述主反射面和副反射面进行调整。本公开的方案不需要预先测试电信号，可以直接应用于天线安装阶段，极大提高了天线系统的建设效率。
基本信息
专利标题 ：
一种天线反射体空间几何关系校准方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295049A
申请号 ：
CN202111590517.7
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张新盼
申请人 ：
中国电子科技集团公司第三十九研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市雁塔区丈八三路三十号
代理机构 ：
工业和信息化部电子专利中心
代理人 ：
田卫平
优先权 ：
CN202111590517.7
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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