一种瓷砖表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种瓷砖表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。本发明所述的一种瓷砖表面缺陷检测方法包括:获取待检测的瓷砖图像;将瓷砖图像输入训练好的缺陷检测模型进行识别,得到对应的缺陷检测结果;其中,所述缺陷检测模型的训练步骤包括:获取多张瓷砖图像;对所述瓷砖图像进行处理,得到训练集、验证集和测试集;将所述训练集输入所述缺陷检测模型,对所述缺陷检测模型进行训练;使用所述验证集选择所述缺陷检测模型的参数,使用所述测试集检验不同参数对应的所述缺陷检测模型的性能,得到训练好的缺陷检测模型。本发明所述的一种瓷砖表面缺陷检测方法,提高了瓷砖表面缺陷检测的准确率和速度,减少了瓷砖表面缺陷漏检的情况。
基本信息
专利标题 :
一种瓷砖表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114332004A
申请号 :
CN202111613881.0
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
余松森张明威杨欢
申请人 :
华南师范大学
申请人地址 :
广东省佛山市南海区狮山南海软件园华南师范大学软件学院
代理机构 :
广州骏思知识产权代理有限公司
代理人 :
张金龙
优先权 :
CN202111613881.0
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211227
申请日 : 20211227
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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