针对大长细比构造物的变形测量方法、电子设备及介质
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种针对大长细比构造物的变形测量方法、电子设备及介质。该方法可以包括：在被测构造物与测量弯曲变形的同方向侧面设置多个应变传感器；确定应变传感器与被测目标的中轴线的距离；建立应变和变形的表达式；根据应变传感器的数据，建立测量矩阵；根据表达式与测量矩阵，计算每一个应变传感器位置的变形。本发明通过测量应变，并对应变数据处理，可以得到高准确度的弯曲变形。
基本信息
专利标题 ：
针对大长细比构造物的变形测量方法、电子设备及介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114509017A
申请号 ：
CN202111614189.X
公开（公告）日 ：
2022-05-17
申请日 ：
2021-12-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
康传明贾永清王军宋涛陈琪
申请人 ：
中国航天空气动力技术研究院
申请人地址 ：
北京市丰台区云岗西路17号
代理机构 ：
北京思创大成知识产权代理有限公司
代理人 ：
张立君
优先权 ：
CN202111614189.X
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2022-06-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/16
申请日 : 20211227
申请日 : 20211227
2022-05-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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