一种用于键合工艺的硅衬底抛光片的制备方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种用于键合工艺的硅衬底抛光片的制备方法,包括以下步骤:(1)采用磁场拉晶法进行拉晶,磁场类型为水平磁场,磁场强度为1000‑5000高斯,磁场形状为马鞍形,晶转为5‑15rpm,埚转为0.1‑3rpm;控制晶体生长时液面位置+/‑0.5mm波动范围;(2)进行滚磨及线切割;(3)进行倒角轮廓设计与加工,进行四次倒角,分别使用800#导轮粗倒2次,1000‑3000#导轮精倒2次,使用非对称倒角,轮廓幅长X1大于600μm,X2小于300μm;(4)进行研磨腐蚀,先进行碱腐蚀,再进行酸腐蚀,碱腐蚀去除量控制在5‑15μm,酸腐蚀去除量控制在15‑20μm;(5)进行抛光,抛光转速控制在30‑50rpm,压力控制在300‑500kg,化学液浓度控制在1∶15‑1∶30,pH值控制在9‑13,蜡膜厚度控制在1‑3μm;(6)进行清洗检测;(7)进行边缘形状评估。
基本信息
专利标题 :
一种用于键合工艺的硅衬底抛光片的制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114346924A
申请号 :
CN202111616066.X
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
钟耕杭王新边永智宁永铎徐继平张健华韩萍林霖田凤阁李钧宏颜俊尧朱晓彤
申请人 :
山东有研半导体材料有限公司;有研半导体硅材料股份公司
申请人地址 :
山东省德州市经济技术开发区袁桥镇东方红东路6596号(中元科技创新创业园)A座921室
代理机构 :
北京北新智诚知识产权代理有限公司
代理人 :
刘秀青
优先权 :
CN202111616066.X
主分类号 :
B24D18/00
IPC分类号 :
B24D18/00 B24B1/00 B28D5/04 B28D5/00 H01L21/762
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B24
磨削;抛光
B24D
磨削、抛光或刃磨用的工具
B24D18/00
其他类目不包括的磨具制造,如磨轮
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B24D 18/00
申请日 : 20211227
申请日 : 20211227
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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