本发明属于涉及一种深矢高工件内壁全面形测量方法，具体涉及一种使用双传感器对内壁不同区域分别测量进而进行面形拼接的深矢高工件内壁全面形测量方案与测量系统，包括：水平底座，其上设有XY定位平台，XY定位平台包括X方向移动的X向运动平台以及Y方向移动的Y向运动平台；转台，设置在XY定位平台上，用于绕Z向旋转；工件座，设置在所述转台上，用于放置深矢高工件；竖直底座，其上设有Z方向移动的Z向运动平台；侧向计，设置在所述Z向运动平台上，用于对深矢高工件的内壁侧壁进行测量；以及轴向计，设置在所述Z向运动平台上用于对深矢高工件的内壁底壁进行测量。本专利结合侧向计与轴向计对深矢高工件进行内壁壁形的测量，该测量结构以及测量方式不受光纤影响，且针对各种尺寸不同的深矢高工件均可以达到测量目的。