一种基于激光激励纵波测量亚表面缺陷深度的方法
公开
摘要
本发明公开了一种基于激光激励纵波测量亚表面缺陷深度的方法。其步骤为：1)将脉冲激光器探头置于工件亚表面缺陷的一侧，与亚表面缺陷相距d1；2)将激光测振仪放置在工件亚表面缺陷的另一侧；3)利用激光测振仪接收模态转换表面波R1；4)将脉冲激光器探头向亚表面缺陷移动，使探头与亚表面缺陷距离为d2；5)利用激光测振仪接收模态转换表面波R2；6)通过模态转换波R1和R2的到达时间和距离d1与d2，计算纵波声速和亚表面缺陷的深度。本发明能够用于超精密加工在位检测和其他一些高温高压等特殊环境中的亚表面缺陷深度的检测。
基本信息
专利标题 ：
一种基于激光激励纵波测量亚表面缺陷深度的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295731A
申请号 ：
CN202111627514.6
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王传勇王文卢科青陈占锋陈远流居冰峰
申请人 ：
杭州电子科技大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市下沙高教园区2号大街
代理机构 ：
杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
陈炜
优先权 ：
CN202111627514.6
主分类号 ：
G01N29/07
IPC分类号 ：
G01N29/07 G01N29/34 G01N29/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
G01N29/07
通过测量声波的传播速度或传播时间
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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