石英晶体微量天平测控装置及测量方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种石英晶体微量天平测控装置及测量方法，包括：石英晶体微量天平控制器和探头传感器；所述石英晶体微量天平控制器包括控制器机箱，控制器机箱内设有预设通道频率测量模块、温度控制模块、固态继电器、开关电源、通信转换模块和触摸屏；所述温度控制模块与所述通信转换模块连接；所述触摸屏、所述频率测量模块以及所述通信转换模块相互连接；所述温度控制模块与所述固态继电器连接；所述开关电源为控制器机箱内各模块供电；所述探头传感器位于测试环境中，且与所述石英晶体微量天平控制器连接。
基本信息
专利标题 ：
石英晶体微量天平测控装置及测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114323215A
申请号 ：
CN202111631424.4
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张延顺蒋燕飞周晓东吴晓鹏景加荣黄佳荣
申请人 ：
上海裕达实业有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区华宁路251号
代理机构 ：
上海段和段律师事务所
代理人 ：
李佳俊
优先权 ：
CN202111631424.4
主分类号 ：
G01G5/00
IPC分类号 ：
G01G5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01G
称量
G01G5/00
平衡受流体作用影响的称量仪器
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01G 5/00
申请日 : 20211228
申请日 : 20211228
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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