一种油膜厚度测量亚微米级位移标定装置和方法
公开
摘要

本发明涉及一种油膜厚度测量亚微米级位移标定装置和方法,装置包括底座、下平台、上平台、支撑立柱、上端盖、滚珠丝杆传动装置、光栅测量装置、超声波测量装置和伺服电机,下平台安装在底座上,上平台位于下平台上方,支撑立柱的上端连接上端盖,下端贯通上平台和下平台后连接底座;滚珠丝杆传动装置的上端连接上端盖,下端贯通上平台和下平台后连接底座,滚珠丝杆传动装置的丝杠螺母连接上平台,伺服电机驱动连接滚珠丝杆传动装置;下平台上设有油槽,光栅测量装置和超声波测量装置均安装在上平台上。与现有技术相比,本发明通过精度更高的光栅传感器对超声波传感器的测量结果进行亚微米级的标定,提升了超声波传感器在工程机械测量中的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种油膜厚度测量亚微米级位移标定装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295068A
申请号 :
CN202111641858.2
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张锐李瑞孟祥慧
申请人 :
上海交通大学
申请人地址 :
上海市闵行区东川路800号
代理机构 :
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 :
赵志远
优先权 :
CN202111641858.2
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  G01B17/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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