一种大规模原理图检查方法及系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种大规模原理图检查方法及系统,属于自动化测试技术领域。它包括获取工程原理图,提取工程原理图中各数据对象,解析各数据对象包含的属性;所述数据对象包括各引线、端点、引脚、器件以及模块;所述数据对象包括各引线、端点、引脚、器件以及模块;根据提取出的工程原理图中各数据对象构建点矩阵;根据构建的点矩阵,分别对器件和器件之间的通路、器件和模块之间的通路、以及模块和模块之间的通路进行检查。本发明通过对电路图表文件进行解析,根据电路原理图的具体信息,能够快速高效地检查原理图中设计规则是否符合规定。
基本信息
专利标题 :
一种大规模原理图检查方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114282491A
申请号 :
CN202111646153.X
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
蒋历国代文亮徐良凌峰
申请人 :
芯和半导体科技(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区纳贤路60弄5号4层01室
代理机构 :
上海乐泓专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王瑞
优先权 :
CN202111646153.X
主分类号 :
G06F30/398
IPC分类号 :
G06F30/398
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/398
设计验证或优化,例如:使用设计规则检查、布局与原理图或有限元方法
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/398
申请日 : 20211229
申请日 : 20211229
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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