基于EMMI系统的化合物半导体射频功率测试系统及方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了基于EMMI系统的化合物半导体射频功率测试系统及方法,包括信号源,耦合器,隔离器,负载调节器和EMMI平台;首先采用EMMI平台采集器件在未加电和未加微波激励信号时的背景光信号;然后为器件加电,使得器件处于导通或者夹断的工作状态,根据器件的工作状态,调整信号源为器件提供微波激励信号,并通过负载调节器调整射频输出端的微波信号的驻波比和相位,从而改变器件加电工作状态下的光信号,采用EMMI平台实时采集器件此时的光信号,所述EMMI平台根据背景光信号和采集的器件在工作状态下的光信号,生成器件工作状态下的射频EMMI分布图。本发明能够得到化合物半导体器件在不同射频工作环境下功率分布的情况。
基本信息
专利标题 :
基于EMMI系统的化合物半导体射频功率测试系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114355031A
申请号 :
CN202111648137.4
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邵国键林罡任彬张长梅刘柱陈韬陈堂胜
申请人 :
中国电子科技集团公司第五十五研究所
申请人地址 :
江苏省南京市秦淮区中山东路524号
代理机构 :
南京经纬专利商标代理有限公司
代理人 :
陆烨
优先权 :
CN202111648137.4
主分类号 :
G01R21/00
IPC分类号 :
G01R21/00 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R21/00
电功率、功率因数的测量装置
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 21/00
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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