一种数据测量系统及方法
实质审查的生效
摘要

本发明实施例提供一种数据测量系统及方法。所述系统包括:主控单元、数据测量模块、数据校准模块、程控开关模块,通过数据测量模块的设置,用于对被测设备的待测量数据进行测量,获得测量数据,实现设备自动化测量;通过设置数据校准模块,用于对所述被测设备的测量数据进行校准,实现了自动化校准;程控开关模块用于控制所述数据测量模块与所述数据校准模块之间的连接关系以及所述数据测量模块与所述被测设备之间的连接关系,便捷了测试校准的自动化控制进行;本发明提供的系统提高了数据测量装置的测量灵活性以及校准的效率和准确率,减少了人工逐点连接引入的分布参数、连接可靠性程度、外界干扰等因素对数据测量的影响。

基本信息
专利标题 :
一种数据测量系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114415092A
申请号 :
CN202111654043.8
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
许兴明刘国伟
申请人 :
北京无线电计量测试研究所
申请人地址 :
北京市海淀区永定路50号12号楼
代理机构 :
中国航天科工集团公司专利中心
代理人 :
张国虹
优先权 :
CN202111654043.8
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20211230
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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