一种多温度环境下微焊点原位电迁移数据测试系统和方法
实质审查的生效
摘要

本申请公开了一种多温度环境下微焊点原位电迁移数据测试系统和方法,本系统包括:金相探测装置、密闭仓体、热感装置、干燥物质、直流电源和热影响环境设备;金相探测装置用于得到微焊点初始状态表征和测试状态表征,热感装置用于监测微焊点的温度;干燥物质用于对密闭仓体进行干燥处理;直流电源用于向微焊点通入直流电流;热影响环境设备用于向密闭仓体提供热疲劳环境或热时效环境。本方法包括:获取微焊点的初始状态表征;向微焊点通入直流电流;将微焊点置于密闭且干燥的密闭仓体中;将密闭仓体置于热疲劳环境或热时效环境中;完成微焊点原位电迁移测试。本申请能够有效隔绝空气中的水分、灰尘等影响,顺利进行焊点的原位表征。

基本信息
专利标题 :
一种多温度环境下微焊点原位电迁移数据测试系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114280408A
申请号 :
CN202111665620.3
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
汉晶李子萱郭福马立民孟洲晋学轮吕伊铭贾强周炜籍晓亮
申请人 :
北京工业大学
申请人地址 :
北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 :
北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
许佳
优先权 :
CN202111665620.3
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211231
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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