缺陷处理措施确定方法、系统及存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明实施例中公开了一种缺陷处理措施确定方法、系统及存储介质。其中,方法包括:接收用户登记的当前缺陷现象;根据所述当前缺陷现象,通过调用一寻根图模型,向所述用户推荐排位靠前的第一设定数量的候选缺陷原因;接收用户从所述候选缺陷原因中确认的当前缺陷原因;根据所述当前缺陷原因,通过调用所述寻根图模型,向所述用户推荐排位靠前的第二设定数量的候选缺陷处理措施,以供用户确定用于处理当前缺陷现象的当前缺陷处理措施。本发明实施例中的技术方案能够快速确定缺陷处理措施。

基本信息
专利标题 :
缺陷处理措施确定方法、系统及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114444890A
申请号 :
CN202111667576.X
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
闫兴浪陈晓辉
申请人 :
西门子(中国)有限公司
申请人地址 :
北京市朝阳区望京中环南路7号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111667576.X
主分类号 :
G06Q10/06
IPC分类号 :
G06Q10/06  G06Q50/04  G06F16/2458  G06N3/04  G06N3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06Q
专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法;其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法
G06Q10/00
行政;管理
G06Q10/06
资源、工作流、人员或项目管理,例如组织、规划、调度或分配时间、人员或机器资源;企业规划;组织模型
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06Q 10/06
申请日 : 20211231
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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