确定透平构件缺陷的方法和设备

发明专利申请公布后的驳回

摘要

本发明涉及一种确定透平构件(10、12)缺陷的方法，包括借助群辐射器探头(18)发射和接收在构件(10、12)要检查的表面区上至少一个超声波信号的步骤，按照本发明特征在于下列步骤：将群辐射器探头(18)分成多个虚拟探头(20、22、24)，以及将至少其中两个虚拟探头(20、22、24)瞄准单个要检查的表面区发射和接收至少一个超声波信号。

基本信息

专利标题：

确定透平构件缺陷的方法和设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101111764A

申请号：

CN200580047375.2

公开（公告）日：

2008-01-23

申请日：

2005-12-30

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

迈克尔·克洛森－冯兰肯舒尔茨迈克尔·奥普海斯

申请人：

西门子公司

申请人地址：

德国慕尼黑

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

谢强

优先权：

CN200580047375.2

主分类号：

G01N29/07

IPC分类号：

G01N29/07 G01N29/26 G01N29/22