一种确定透明体表面缺陷所在层面的方法及系统
授权
摘要

本申请涉及一种确定透明体表面缺陷所在层面的方法及系统,其包括如下步骤:分别拍摄透明体的第一表面和第二表面,分别获得对应的第一缺陷图像和第二缺陷图像,拍摄两个表面时成像装置的镜头朝向不平行;对比两个缺陷图像对应区域的缺陷位置,并结合所述成像装置的镜头俯仰角,确定出所述透明体上的缺陷所在层面,其中,所述镜头俯仰角为所述成像装置的镜头朝向与所述透明体的运动方向之间的夹角。本申请可以解决相关技术中通常的机器视觉在检测过程中仅靠镜头的景深不足以明显区分出缺陷所在的玻璃层面的问题。

基本信息
专利标题 :
一种确定透明体表面缺陷所在层面的方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114088740A
申请号 :
CN202210081598.6
公开(公告)日 :
2022-02-25
申请日 :
2022-01-24
授权号 :
CN114088740B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
时强洪志坤饶兴陈洪
申请人 :
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 :
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张凯
优先权 :
CN202210081598.6
主分类号 :
G01N21/958
IPC分类号 :
G01N21/958  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/958
检测透明材料
法律状态
2022-04-29 :
授权
2022-03-15 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/958
申请日 : 20220124
2022-02-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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