本实用新型公开了一种芯片颗粒检测及不良颗粒去除装置，其技术方案是：包括壳体，所述壳体内部设有移动机构和推动机构，所述移动机构包括电机，所述电机设于壳体内部，所述电机输出端固定连接有第二转动杆，所述第二转动杆顶部设有螺纹杆，所述螺纹杆一端与壳体内壁通过轴承连接，所述螺纹杆另一端设有螺纹连接杆，所述螺纹杆与螺纹连接杆通过螺纹连接，本实用新型的有益效果是：通过移动机构和推动机构的使用，将芯片颗粒进行检测并将不良芯片颗粒去除，使用机器代替人力，大大节约了劳动力的使用，使得芯片颗粒的处理进程加快，节约生产时间，且对不良芯片颗粒进行收集，减少资源浪费，节约成本。