一种用于大电流测试的治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于大电流测试的治具,包括底座、C型弹片阵列、填充块和PCB板,所述PCB板固定连接在底座下方,所述底座的内部设置有向下开口的容置腔,所述底座的顶部设置有与容置腔连通的测试窗口,所述C型弹片阵列包覆在填充块的两侧面,所述C型弹片阵列与填充块构成的整体嵌装在容置腔内,所述C型弹片阵列的顶端从测试窗口露出,所述C型弹片阵列的底端与PCB板电连接,本实用新型的有益效果是:C型弹片的中部受弹性填充块的挤压抵接在底座容置腔的内壁,两者接触紧密,C型弹片的上下两端弯曲产生一定的弹力,方便与连接器弹性接触进行测试,由于该C型弹片的宽度较大,增加了电信号的过载路径的横截面积,从而得以通过大电流。
基本信息
专利标题 :
一种用于大电流测试的治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122500532.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-18
授权号 :
CN216434160U
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
谢后勇
申请人 :
深圳芯经纬科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区观澜街道大富社区桂月路334号硅谷动力汽车电子创业园A8栋301
代理机构 :
荆门市森皓专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王丽
优先权 :
CN202122500532.X
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-05-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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