本实用新型涉及传感器测试技术领域，公开了一种传感器测试治具，包括电路板，所述电路板上设有微处理芯片、扩展芯片、电源模块、显示模块和若干个IC测试座，所述微处理芯片和所述扩展芯片均与所述电源模块连接，若干个所述IC测试座通过所述扩展芯片与所述微处理芯片连接，所述显示模块与所述微处理芯片连接，所述IC测试座用于放置待测传感器。本实用新型的一种传感器测试治具，能够同时对多个传感器进行测试，且能够快速获取待测传感器的测试结果，无需上位机的参与以及专业测试软件的安装，结构紧凑，便于携带，能够实时测试且测试成本低，尤其适用于市场上对传感器进行批量购买及回收时的测试验收。