一种表面污染测量辅助装置
授权
摘要

本实用新型涉及表面污染测量技术领域,公开了一种表面污染测量辅助装置,包括套壳和紧固机构,多个紧固机构对称设置在套壳的套壳侧板上,紧固机构用于将表面污染测量仪的底部夹固在套壳内。套壳的套壳侧板上还对称设置有两个高度调节机构,表面污染测量仪的底端位于高度调节机构上,高度调节机构用于调节表面污染测量仪的底部与套壳内侧的配合长度。高度调节机构包括滑块、连接板和承载板,套壳侧板上竖直设置有滑槽,滑块通过滑动配合安装在该滑槽内,滑块的底部前侧通过连接板水平连接有承载板,套壳侧板上还设置有升降调节结构。本实用新型能够根据需要调节表面污染探测仪器底端与被探测表面间的距离,辅助提高表面污染测量准确性。

基本信息
专利标题 :
一种表面污染测量辅助装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122752331.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-10
授权号 :
CN216595005U
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
于川高建政崔明牛楠高路远韩凯
申请人 :
天津市生态环境监测中心
申请人地址 :
天津市南开区复康路19号
代理机构 :
北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
胡红涛
优先权 :
CN202122752331.9
主分类号 :
G01N33/00
IPC分类号 :
G01N33/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2022-05-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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