本申请公开一种手动探针测试工作台，包括载台底座、XY轴移动平台、Z轴移动平台和测试装置；所述XY轴移动平台以能够在水平方向移动的方式被设置于所述载台底座，且所述XY轴移动平台的顶面设置有绝缘座，所述绝缘座的顶部设置有铜板；所述Z轴移动平台以能够在竖直方向移动的方式被设置于所述载台底座，并位于所述XY轴移动平台的正上方，所述Z轴移动平台于水平方向设置有正对所述铜板的环形槽；所述测试装置包括显像元件和探边元件，其中所述显像元件以在所述Z轴移动平台的上方正对所述铜板的方式固定设置于所述载台底座，所述探边元件被固定设置于所述环形槽的侧壁。本申请能够快速、稳定、准确的测试半导体元件，尤其是小颗粒晶体。