一种用于检测石英晶片宽温要求的装置
授权
摘要
本实用新型提供一种用于检测石英晶片宽温要求的装置，涉及温度检测设备技术领域，包括底框，底框两侧外表面均固定连接有侧板，每个侧板一侧外表面均螺纹连接有调节栓，每个调节栓一端均转动连接有夹板，底框顶部固定连接有限位框，限位框顶部靠近两侧边缘处均开设有滑槽，两个滑槽内部之间滑动嵌设有移动架。本实用新型使用时，将不同温度检测设备有效放置于安装框内部，进而通过旋转定位栓，使压片能够有效进行不同规格温度检测设备的位置固定限制，进而通过旋转调节栓，进而使调节栓能够有效移动调节夹板实际使用位置，进而使设备能够根据实际使用情况便捷进行自身安装位置的移动调节。
基本信息
专利标题 ：
一种用于检测石英晶片宽温要求的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123398336.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
CN216593863U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
罗吉如
申请人 ：
深圳市晶迅捷科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区航城街道黄麻布社区簕竹角鸿业工业园7栋厂房一层
代理机构 ：
青海中赢知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
莫文新
优先权 ：
CN202123398336.2
主分类号 ：
G01K13/00
IPC分类号 ：
G01K13/00 G01K1/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K13/00
特殊用途温度计
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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