本申请是关于一种屏幕缺陷分类方法、电子设备及存储介质。该屏幕缺陷分类方法包括：对输入的屏幕缺陷图像进行预处理，得到缺陷样本图像，预处理包括：滤波、阈值分割、缺陷面积和边缘分析、尺度调整和降采样。缺陷样本图像包括缺陷ROI区域，缺陷样本图像的尺寸符合屏幕缺陷检测网络的输入图像尺寸，通过屏幕缺陷检测网络对缺陷样本图像进行分类，得到屏幕缺陷图像的缺陷类型。本申请通过结合预处理和屏幕缺陷检测网络，能够快速准确的获取包含缺陷ROI区域的缺陷样本图像，带有准确的缺陷ROI区域的缺陷样本图像能够提高屏幕缺陷检测网络的分类准确率。另外，本申请还能够解决传统算法需要根据不同缺陷类型调整参数和运算步骤的问题。