一种光学测量数据分析方法、分析系统及电子设备
实质审查的生效
摘要

本发明提供的一种光学测量数据分析方法,包括:对多个检测样本进行光谱分析,获取每个检测样本的偏差指数和相关系数;设立光谱偏差指数参数和光谱相关系数参数,计算每个检测样本的光谱匹配度指标,使得每个检测样本的光谱匹配度指标均大于预设的光谱匹配度指标阈值;基于偏差指数参数和相关系数参数,对待测件进行光谱分析,计算待测件的光谱匹配度指标,判断待测件是否为正常件。本发明首创性的将偏差指数和相关系数都纳入光谱匹配度指标中,从而可同时从测量光谱与仿真光谱的绝对偏差和波峰及波谷对应情况两个方面对测量结果的可靠性进行评价,通过光谱匹配度指标判断待测件的光谱匹配度,提高光谱匹配度的准确性和鲁棒性。

基本信息
专利标题 :
一种光学测量数据分析方法、分析系统及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114444350A
申请号 :
CN202210022621.4
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-01-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
石雅婷郭春付李伟奇陶泽张传维
申请人 :
上海精测半导体技术有限公司
申请人地址 :
上海市青浦区徐泾镇双浜路269、299号1幢1、3层
代理机构 :
武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张英
优先权 :
CN202210022621.4
主分类号 :
G06F30/23
IPC分类号 :
G06F30/23  G06F30/27  G06K9/62  G06F17/11  G06F111/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/23
使用有限元方法或有限差方法
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/23
申请日 : 20220110
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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