用于补偿退化的半导体装置及使用其的半导体系统
实质审查的生效
摘要
一种半导体装置可以包括退化检测电路和电路块。退化检测电路可以检测半导体装置中出现的退化，并产生退化信息。电路块可以包括被配置为接收可变偏置电压和可变栅极电压的至少一个晶体管。
基本信息
专利标题 ：
用于补偿退化的半导体装置及使用其的半导体系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114530186A
申请号 ：
CN202210042409.4
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2018-02-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
金雄来高福林宋根洙
申请人 ：
爱思开海力士有限公司
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京弘权知识产权代理有限公司
代理人 ：
许伟群
优先权 ：
CN202210042409.4
主分类号 ：
G11C29/12
IPC分类号 ：
G11C29/12 G11C29/50
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/12
申请日 : 20180213
申请日 : 20180213
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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