使用焊料合金的半导体装置
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摘要

本发明要解决的问题是提高锡(Sn)-锑(Sb)体系焊料合金的润湿性和焊接性能。使用焊料合金6将具有半导体芯片4的绝缘基片10上的导体图案3与散热板8相连接,所述焊料合金包含3-5重量%的锑(Sb)、不超过0.2重量%的锗(Ge)和余量的锡(Sn)。可用同类的焊料合金5将半导体芯片4和绝缘基片10上的半导体图案2连接。可用同类的焊料合金7将半导体芯片4和连线导体6连接。

基本信息
专利标题 :
使用焊料合金的半导体装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN102637662A
申请号 :
CN201210102888.0
公开(公告)日 :
2012-08-15
申请日 :
2006-02-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
両角朗征矢野伸高桥良和
申请人 :
富士电机株式会社
申请人地址 :
日本神奈川县
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
江磊
优先权 :
CN201210102888.0
主分类号 :
H01L23/488
IPC分类号 :
H01L23/488  C22C13/02  H01L21/60  B23K35/26  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/48
用于向或自处于工作中的固态物体通电的装置,例如引线或接线端装置
H01L23/488
由焊接或黏结结构组成
法律状态
2014-09-24 :
授权
2012-10-03 :
实质审查的生效
号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101332120631
IPC(主分类) : H01L 23/488
专利申请号 : 2012101028880
申请日 : 20060228
2012-08-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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